TY - CONF T1 - CARACTERIZAÇÃO DE PLACAS DE CIRCUITO IMPRESSO POR MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, VISANDO A RECICLAGEM JO - Blucher Chemical Engineering Proceedings VL - 1 IS - 5 SP - 1581 EP - 1585 PY - 2018 T2 - XXII Congresso Brasileiro de Engenharia Química AU - RAMUNNO,F. A. L AU - MORAES,V. T AU - ESPINOSA,D. C. R AU - TENÓRIO,J. A. S SN - 2359-1757 DO - http://dx.doi.org/10.5151/cobeq2018-PT.0421 UR - https://www.proceedings.blucher.com.br/ KW - ER -