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Critérios comparados de exame de Desenho Industrial: INPI, USPTO e JPO

Compared criteria of Design examination: INPI, USPTO and JPO

DE LA HOUSSAYE, Cássia Mota; PERALTA, Patricia Pereira;

artigo:

O presente trabalho objetiva apresentar os diferentes critérios de exame empregados em três instituições de propriedade industrial para a concessão do registro de Desenho Industrial, ferramenta de proteção de propriedade industrial existente no campo da Propriedade Intelectual. As três instituições escolhidas como amostra nessa publicação são: o Instituto Nacional da Propriedade Industrial, no Brasil, o United States Patent and Trademark Office, nos Estados Unidos, e, por fim, o Japan Patent Office, no Japão. Iniciaremos com uma introdução a respeito da relação entre Propriedade Industrial e Desenho Industrial, passando então para uma evolução da proteção através de um panorama histórico. Passaremos então a um resumo dos critérios de exame para a concessão da proteção ao Desenho Industrial nos três institutos. Por fim, compararemos os critérios de exame nesses três diferentes países, apreciando as diferenças de tratamento que transparecem no escopo da proteção e também nas definições presentes nas respectivas ferramentas de proteção da propriedade industrial.

artigo:

The present work aims to present the different examination criteria employed in three industrial property institutions for the granting of Industrial Design registration, an industrial property protection tool in the field of Intellectual Property. The three institutions chosen as a sample in this publication are: the National Institute of Industrial Property in Brazil, the United States Patent and Trademark Office in the United States, and, finally, the Japan Patent Office in Japan. Starting with an introduction to the relation between Intellectual Property and Industrial Design, the text will proceed to an historical panorama of the evolution of industrial protection. Then the text will lead to a comparison of the examination criteria in these three different countries, appreciating the differences in treatment that appear in the protection scope and also in the design definitions present in the respective industrial property protection tools.

Palavras-chave: direitos de propriedade industrial; desenho industrial; critérios de exame,

Palavras-chave: industrial property rights; design; examination criteria,

DOI: 10.5151/ped2018-3.3_ACO_20

Referências bibliográficas
  • [1] -
Como citar:

DE LA HOUSSAYE, Cássia Mota; PERALTA, Patricia Pereira; "Critérios comparados de exame de Desenho Industrial: INPI, USPTO e JPO", p. 2030-2044 . In: Anais do 13º Congresso Pesquisa e Desenvolvimento em Design (2018). São Paulo: Blucher, 2019.
ISSN 2318-6968, DOI 10.5151/ped2018-3.3_ACO_20

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