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ABORDAGEM PARA MONITORAMENTO TECNOLÓGICO E INVESTIGAÇÃO DE POTENCIAL DE MERCADO: APLICAÇÃO A UMA TECNOLOGIA DE FILAMENTOS NANOESTRUTURADOS PARA IMPRESSORAS DO TIPO FUSED DEPOSITION MODELING

ABORDAGEM PARA MONITORAMENTO TECNOLÓGICO E INVESTIGAÇÃO DE POTENCIAL DE MERCADO: APLICAÇÃO A UMA TECNOLOGIA DE FILAMENTOS NANOESTRUTURADOS PARA IMPRESSORAS DO TIPO FUSED DEPOSITION MODELING

Santos, Marina Prass; Silva, Glaura Goulart; Bagno, Raoni Barros;

Artigo:

Estudos de tendências e de prospecção tecnológica tem sido utilizados como ferramenta para informar decisões estratégicas em organizações há décadas. Dentre os métodos consolidados, o Roadmapping se destaca pela sua flexibilidade e apelo gráfico, enquanto a patentometria é uma técnica útil para extrair informações de grandes quantidades de dados. Inspirado no Roadmapping e na patentometria, este estudo propõe uma abordagem de monitoramento tecnológico e investigação de potencial de mercado para um centro tecnológico (CTNano / UFMG), baseado em estudos de patentes e documentos de mercado. As informações obtidas nesses estudos são combinadas em um mapa que apresenta possíveis caminhos de atuação do Centro. O objeto de tal abordagem é uma tecnologia de filamentos poliméricos nanoestruturados para impressoras tipo fused deposition modeling (FDM). No mapa construído foram identificados dois focos potenciais de atuação para o CTNano: (i) tentativa de licenciamento do depósito de patente já efetuado junto a fabricantes de insumos para impressoras FDM que se destacaram nos estudos realizados e (ii) prospecção de projetos envolvendo clientes finais interessados no uso de materiais para manufatura aditiva em contextos de produção industrial, potencialmente aproveitando o posicionamento de mercado conquistado com o licenciamento anterior para ganhar tração nesta iniciativa.

Artigo:

Estudos de tendências e de prospecção tecnológica tem sido utilizados como ferramenta para informar decisões estratégicas em organizações há décadas. Dentre os métodos consolidados, o Roadmapping se destaca pela sua flexibilidade e apelo gráfico, enquanto a patentometria é uma técnica útil para extrair informações de grandes quantidades de dados. Inspirado no Roadmapping e na patentometria, este estudo propõe uma abordagem de monitoramento tecnológico e investigação de potencial de mercado para um centro tecnológico (CTNano / UFMG), baseado em estudos de patentes e documentos de mercado. As informações obtidas nesses estudos são combinadas em um mapa que apresenta possíveis caminhos de atuação do Centro. O objeto de tal abordagem é uma tecnologia de filamentos poliméricos nanoestruturados para impressoras tipo fused deposition modeling (FDM). No mapa construído foram identificados dois focos potenciais de atuação para o CTNano: (i) tentativa de licenciamento do depósito de patente já efetuado junto a fabricantes de insumos para impressoras FDM que se destacaram nos estudos realizados e (ii) prospecção de projetos envolvendo clientes finais interessados no uso de materiais para manufatura aditiva em contextos de produção industrial, potencialmente aproveitando o posicionamento de mercado conquistado com o licenciamento anterior para ganhar tração nesta iniciativa.

Palavras-chave: análises de futuro para tecnologias; filamentos nanoestruturados; manufatura FDM; patentometria; Roadmapping,

Palavras-chave: análises de futuro para tecnologias; filamentos nanoestruturados; manufatura FDM; patentometria; Roadmapping,

DOI: 10.5151/cbgdp2021-3142

Referências bibliográficas
  • [1] .
Como citar:

Santos, Marina Prass; Silva, Glaura Goulart; Bagno, Raoni Barros; "ABORDAGEM PARA MONITORAMENTO TECNOLÓGICO E INVESTIGAÇÃO DE POTENCIAL DE MERCADO: APLICAÇÃO A UMA TECNOLOGIA DE FILAMENTOS NANOESTRUTURADOS PARA IMPRESSORAS DO TIPO FUSED DEPOSITION MODELING", p. 957-969 . In: Anais do 13º Congresso Brasileiro de Inovação e Gestão de Desenvolvimento do Produto. São Paulo: Blucher, 2021.
ISSN 2357-7592, DOI 10.5151/cbgdp2021-3142

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